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No mundo dos semicondutores de banda larga (WBG), se o processo de fabricação avançado é a “alma”, o susceptor de grafite é a “espinha dorsal” e seu revestimento superficial é a “pele” crítica.

No mundo de alto risco da eletrónica de potência, o carboneto de silício (SiC) e o nitreto de gálio (GaN) estão a liderar uma revolução – dos veículos elétricos (VE) à infraestrutura de energia renovável. No entanto, a lendária dureza e inércia química destes materiais apresentam um formidável gargalo de fabricação.

Na fabricação de semicondutores, o processo de Planarização Química-Mecânica (CMP) é o estágio central para alcançar a planarização da superfície do wafer, determinando diretamente o sucesso ou o fracasso das etapas subsequentes da litografia. Como consumível crítico no CMP, o desempenho da pasta de polimento é o fator final no controle da taxa de remoção (TR), minimizando defeitos e melhorando o rendimento geral.